Please use this identifier to cite or link to this item:
https://olympias.lib.uoi.gr/jspui/handle/123456789/24797| Title: | Έλεγχος ορθής λειτουργίας μνημών DRAM με χρήση των NPSF και NWSF μοντέλων σφαλμάτων: ο Δ-τύπος γειτονιάς |
| Institution and School/Department of submitter: | Πανεπιστήμιο Ιωαννίνων. Σχολή Θετικών Επιστημών. Τμήμα Μηχανικών Η/Υ & Πληροφορικής |
| Keywords: | - |
| URI: | https://olympias.lib.uoi.gr/jspui/handle/123456789/24797 http://dx.doi.org/10.26268/heal.uoi.1483 |
| Appears in Collections: | Διατριβές Μεταπτυχιακής Έρευνας (Masters) - ΜΥ |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Μ.Ε. - ΓΕΩΡΓΙΟΣ ΣΦΗΚΑΣ.pdf | 5.35 MB | Adobe PDF | View/Open |
This item is licensed under a Creative Commons License
