Please use this identifier to cite or link to this item: https://olympias.lib.uoi.gr/jspui/handle/123456789/24797
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorΣφήκας, Γεώργιοςel
dc.date.accessioned2015-11-25T08:43:43Z-
dc.date.available2015-11-25T08:43:43Z-
dc.identifier.urihttps://olympias.lib.uoi.gr/jspui/handle/123456789/24797-
dc.identifier.urihttp://dx.doi.org/10.26268/heal.uoi.1483-
dc.rightsDefault License-
dc.subject-
dc.titleΈλεγχος ορθής λειτουργίας μνημών DRAM με χρήση των NPSF και NWSF μοντέλων σφαλμάτων: ο Δ-τύπος γειτονιάςel
heal.typemasterThesis-
heal.type.enMaster thesisen
heal.type.elΜεταπτυχιακή εργασίαel
heal.languageel-
heal.accessfree-
heal.recordProviderΠανεπιστήμιο Ιωαννίνων. Σχολή Θετικών Επιστημών. Τμήμα Μηχανικών Η/Υ & Πληροφορικήςel
heal.publicationDate2009-
heal.bibliographicCitationΒιβλιογραφία: σ. 79-81el
heal.advisorNameΤσιατούχας, Γεώργιοςel
heal.committeeMemberName-
heal.academicPublisherΠανεπιστήμιο Ιωαννίνων. Σχολή Θετικών Επιστημών. Τμήμα Μηχανικών Η/Υ & Πληροφορικήςel
heal.academicPublisherIDuoi-
heal.numberOfPages82 σ.-
heal.fullTextAvailabilitytrue-
Appears in Collections:Διατριβές Μεταπτυχιακής Έρευνας (Masters) - ΜΥ

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Μ.Ε. - ΓΕΩΡΓΙΟΣ ΣΦΗΚΑΣ.pdf5.35 MBAdobe PDFView/Open


This item is licensed under a Creative Commons License Creative Commons