Please use this identifier to cite or link to this item:
https://olympias.lib.uoi.gr/jspui/handle/123456789/39839| Title: | Προσδιορισμός του φάσματος ιονισμού σε πειράματα XRF
από τις εντάσεις Κ χαρακτηριστικών μεταβάσεων. Determining the ionization spectrum in XRF experiments through the intensities of K characteristic transitions . |
| Institution and School/Department of submitter: | Πανεπιστήμιο Ιωαννίνων, Τμήμα Μηχανικών Επιστήμης Υλικών University of Ionannina, Depatment of materials Science Engeering |
| Keywords: | Φασματοσκοπία φθορισμού ακτίνων-Χ (XRF) προσομοίωση,X-ray fluorescence spectroscopy (XRF),φάσμα ιονισμού,Κα μεταβάσεις,μοντελοποίηση,ποσοτική ανάλυση,στοιχειακή ανάλυση,εξίσωση Sherman,νόμος του Mosley,φαινόμενα μήτρας,ionization spectrum,Kα transitions,simulation,modeling,quantitative analysis,elemental analysis,Sherman equation,Moseley’s law,matrix effect |
| URI: | https://olympias.lib.uoi.gr/jspui/handle/123456789/39839 |
| Appears in Collections: | Διδακτορικές Διατριβές - ΜΕΥ |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Διπλωματικη ΔΠΜΣ 426.pdf | 5.3 MB | Adobe PDF | View/Open |
This item is licensed under a Creative Commons License
