Please use this identifier to cite or link to this item:
https://olympias.lib.uoi.gr/jspui/handle/123456789/30828| Title: | 3D ICs Testing Έλεγχος τρισδιάστατων ολοκληρωμένων κυκλωμάτων |
| Alternative title / Subtitle: | automated TAM architecture αυτοματοποιημένη αρχιτεκτονική μηχανισμού πρόσβασης ελέγχου |
| Institution and School/Department of submitter: | Πανεπιστήμιο Ιωαννίνων. Πολυτεχνική Σχολή. Τμήμα Μηχανικών Ηλεκτρονικών Υπολογιστών και Πληροφορικής |
| Subject classification: | Τhree-dimensional integrated circuits |
| Keywords: | Τhree-dimensional integrated circuits,3D ICs,Design for test,DfT,Through-silicon vias,TSVs,IEEE standards,Ολοκληρωμένα κυκλώματα τριών διαστάσεων,Σχεδίαση για έλεγχο,Διαμπερείς στήλες εντός του πυριτίου,Πρότυπα ΙΕΕΕ |
| URI: | https://olympias.lib.uoi.gr/jspui/handle/123456789/30828 http://dx.doi.org/10.26268/heal.uoi.10666 |
| Appears in Collections: | Διατριβές Μεταπτυχιακής Έρευνας (Masters) - ΜΗΥΠ |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Μ.Ε. LEVENTOS KONSTANTINOS 2021.pdf | 5.95 MB | Adobe PDF | View/Open |
This item is licensed under a Creative Commons License
