Please use this identifier to cite or link to this item:
https://olympias.lib.uoi.gr/jspui/handle/123456789/29973| Title: | Self-healing integrated circuits/systems in semiconductor nanometer technologies Αυτο-ιασώμενα ολοκληρωμένα κυκλώματα/συστήματα σε νανομετρικές τεχνολογίες ημιαγωγών |
| Institution and School/Department of submitter: | Πανεπιστήμιο Ιωαννίνων. Πολυτεχνική Σχολή. Τμήμα Μηχανικών Ηλεκτρονικών Υπολογιστών και Πληροφορικής |
| Subject classification: | Reliability |
| Keywords: | Self-healing,Aging monitoring,Sram memories,Reliability,Failure prediction,Αυτο-ίαση,Ανίχνευση γήρανσης,Μνήμες SRAM,Αξιοπιστία,Πρόβλεψη αστοχιών |
| URI: | https://olympias.lib.uoi.gr/jspui/handle/123456789/29973 http://dx.doi.org/10.26268/heal.uoi.9864 |
| Appears in Collections: | Διδακτορικές Διατριβές - ΜΗΥΠ |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Δ.Δ. DOUNAVI ELENI-MARIA 2020.pdf | 4.01 MB | Adobe PDF | View/Open |
This item is licensed under a Creative Commons License
