Please use this identifier to cite or link to this item:
Title: Self-healing integrated circuits/systems in semiconductor nanometer technologies
Αυτο-ιασώμενα ολοκληρωμένα κυκλώματα/συστήματα σε νανομετρικές τεχνολογίες ημιαγωγών
Institution and School/Department of submitter: Πανεπιστήμιο Ιωαννίνων. Πολυτεχνική Σχολή. Τμήμα Μηχανικών Ηλεκτρονικών Υπολογιστών και Πληροφορικής
Subject classification: Reliability
Keywords: Self-healing,Aging monitoring,Sram memories,Reliability,Failure prediction,Αυτο-ίαση,Ανίχνευση γήρανσης,Μνήμες SRAM,Αξιοπιστία,Πρόβλεψη αστοχιών
Appears in Collections:Διδακτορικές Διατριβές

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Δ.Δ. DOUNAVI ELENI-MARIA 2020.pdf4.01 MBAdobe PDFView/Open

This item is licensed under a Creative Commons License Creative Commons