Please use this identifier to cite or link to this item:
Title: Fault models, test algorithms and embedded test techniques for DRAM circuits
Μοντέλα σφαλμάτων, αλγόριθμοι και ενσωματωμένες τεχνικές ελέγχου ορθής λειτουργίας κυκλωμάτων μνημών DRAM
Institution and School/Department of submitter: Πανεπιστήμιο Ιωαννίνων. Σχολή Θετικών Επιστημών. Τμήμα Μηχανικών Η/Υ & Πληροφορικής
Subject classification: Dynamic random access memory
Keywords: DRAM,Memory
Appears in Collections:Διδακτορικές Διατριβές

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Δ.Δ. ΣΦΗΚΑΣ ΓΕΩΡΓΙΟΣ 2015.pdf15.74 MBAdobe PDFView/Open

This item is licensed under a Creative Commons License Creative Commons