Please use this identifier to cite or link to this item:
Title: Efficient Partial Scan Cell Gating for Low-Power Scan-Based Testing
Institution and School/Department of submitter: Πανεπιστήμιο Ιωαννίνων. Σχολή Θετικών Επιστημών. Τμήμα Μηχανικών Ηλεκτρονικών Υπολογιστών και Πληροφορικής
Keywords: algorithms,design,reliability,low-power testing,scan-based testing,scan cell gating,partial gating,circuits,cores
ISSN: 1084-4309
Appears in Collections:Άρθρα σε επιστημονικά περιοδικά ( Ανοικτά)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Kavousianos-2009-Efficient Partial Sc.pdf275.49 kBAdobe PDFView/Open    Request a copy

This item is licensed under a Creative Commons License Creative Commons