Please use this identifier to cite or link to this item: https://olympias.lib.uoi.gr/jspui/handle/123456789/10811
Title: A circuit for concurrent detection of soft and timing errors in digital CMOS ICs
Institution and School/Department of submitter: Πανεπιστήμιο Ιωαννίνων. Σχολή Θετικών Επιστημών. Τμήμα Μηχανικών Ηλεκτρονικών Υπολογιστών και Πληροφορικής
Keywords: concurrent testing,soft and timing errors,monitoring circuits,time redundancy
URI: https://olympias.lib.uoi.gr/jspui/handle/123456789/10811
ISSN: 0923-8174
Appears in Collections:Άρθρα σε επιστημονικά περιοδικά ( Ανοικτά)



This item is licensed under a Creative Commons License Creative Commons