Please use this identifier to cite or link to this item:
https://olympias.lib.uoi.gr/jspui/handle/123456789/10802| Title: | Multiphase BIST: A new reseeding technique for high test-data compression |
| Institution and School/Department of submitter: | Πανεπιστήμιο Ιωαννίνων. Σχολή Θετικών Επιστημών. Τμήμα Μηχανικών Ηλεκτρονικών Υπολογιστών και Πληροφορικής |
| Keywords: | built-in self-test (bist),logic circuit testing,scan |
| URI: | https://olympias.lib.uoi.gr/jspui/handle/123456789/10802 |
| ISSN: | 0278-0070 |
| Appears in Collections: | Άρθρα σε επιστημονικά περιοδικά ( Ανοικτά) |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Kalligeros-2004-Multiphase BIST_ A n.pdf | 791.45 kB | Adobe PDF | View/Open Request a copy |
This item is licensed under a Creative Commons License
