Please use this identifier to cite or link to this item:
https://olympias.lib.uoi.gr/jspui/handle/123456789/10802
Title: | Multiphase BIST: A new reseeding technique for high test-data compression |
Institution and School/Department of submitter: | Πανεπιστήμιο Ιωαννίνων. Σχολή Θετικών Επιστημών. Τμήμα Μηχανικών Ηλεκτρονικών Υπολογιστών και Πληροφορικής |
Keywords: | built-in self-test (bist),logic circuit testing,scan |
URI: | https://olympias.lib.uoi.gr/jspui/handle/123456789/10802 |
ISSN: | 0278-0070 |
Appears in Collections: | Άρθρα σε επιστημονικά περιοδικά ( Ανοικτά) |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
Kalligeros-2004-Multiphase BIST_ A n.pdf | 791.45 kB | Adobe PDF | View/Open Request a copy |
This item is licensed under a Creative Commons License