Παρακαλώ χρησιμοποιήστε αυτό το αναγνωριστικό για να παραπέμψετε ή να δημιουργήσετε σύνδεσμο με αυτό το τεκμήριο: https://olympias.lib.uoi.gr/jspui/handle/123456789/32302
Τίτλος: True random number generation and evaluation using silicon die process variations in FPGAs
Ανάπτυξη και αξιολόγηση γεννήτριας πραγματικά τυχαίων αριθμών με FPGA αξιοποιώντας την ανομοιογένεια του υποστρώματος του πυριτίου
Ίδρυμα και Σχολή/Τμήμα του υποβάλλοντος: Πανεπιστήμιο Ιωαννίνων. Σχολή Θετικών Επιστημών
Θεματική κατηγορία: FPGA
Λέξεις-κλειδιά: True random number generator,Ring oscillators,Entropy source,FPGA,Γεννήτρια πραγματικά τυχαίων αριθμών,Δακτυλιοειδείς ταλαντωτές,Πηγή εντροπίας,Ανομοιογένεια υποστρώματος πυριτίου
URI: https://olympias.lib.uoi.gr/jspui/handle/123456789/32302
http://dx.doi.org/10.26268/heal.uoi.12113
Εμφανίζεται στις Συλλογές:Διατριβές Μεταπτυχιακής Έρευνας (Masters) - ΦΥΣ

Αρχεία σε αυτό το Τεκμήριο:
Αρχείο Περιγραφή ΜέγεθοςΤύπος Αρχείου 
Μ.Ε. ΦΩΤΟΣ ΘΕΟΦΙΛΟΣ 2022.pdf28.54 MBAdobe PDFΠροβολή/Άνοιγμα


Αυτό το τεκμήριο έχει αδειοδοτηθεί από Άδεια Creative Commons Creative Commons