Please use this identifier to cite or link to this item:
https://olympias.lib.uoi.gr/jspui/handle/123456789/31846Full metadata record
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Σπυρίδωνος, Σπυρίδων | el |
| dc.date.accessioned | 2022-07-11T08:02:00Z | - |
| dc.date.available | 2022-07-11T08:02:00Z | - |
| dc.identifier.uri | https://olympias.lib.uoi.gr/jspui/handle/123456789/31846 | - |
| dc.identifier.uri | http://dx.doi.org/10.26268/heal.uoi.11661 | - |
| dc.rights | Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 United States | * |
| dc.rights.uri | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/us/ | * |
| dc.subject | Μνήμη αλλαγής φάσης | el |
| dc.subject | Θερμική αλληλεπίδραση | el |
| dc.subject | Phase change memory | en |
| dc.subject | Thermal crosstalk | en |
| dc.subject | Npsf | en |
| dc.title | Αλγόριθμοι ανίχνευσης ελαττωμάτων θερμικής αλληλεπίδρασης σε μνήμες PCM | el |
| dc.title | Algorthms for thermal crosstalk fault detection in PCM | en |
| heal.type | masterThesis | - |
| heal.type.en | Master thesis | en |
| heal.type.el | Μεταπτυχιακή εργασία | el |
| heal.classification | Θερμική αλληλεπίδραση | - |
| heal.dateAvailable | 2022-07-11T08:03:00Z | - |
| heal.language | el | - |
| heal.access | free | - |
| heal.recordProvider | Πανεπιστήμιο Ιωαννίνων. Πολυτεχνική Σχολή. Τμήμα Μηχανικών Η/Υ & Πληροφορικής | el |
| heal.publicationDate | 2022 | - |
| heal.bibliographicCitation | Βιβλιογραφία: σ. 65-70 | el |
| heal.abstract | Η Μνήμη Αλλαγής Φάσης (Phase Change Memory) είναι ένας τύπος μη πτητικής μνήμης που είναι πολύ πιθανό να αντικαταστήσει την σε ευρεία χρήση μνήμη flash. Η τρέχουσα έρευνα σχετικά με τη μνήμη αλλαγής φάσης στοχεύει στην ενσωμάτωσή της στην κατασκευαστική διαδικασία της τεχνολογίας CMOS που χρησιμοποιείται σήμερα καθώς και στην αύξηση της αξιοπιστίας αυτών των μνημών. Ένα στοιχείο μνήμης αλλαγής φάσης, μπορεί να υπάρχει σε δύο σταθερές καταστάσεις, είτε με υψηλή, είτε με χαμηλή τιμή αντίστασης. Η κατάσταση υψηλής αντίστασης είναι γνωστή ως άμορφη φάση (ή κατάσταση RESET) ενώ η κατάσταση χαμηλής αντίστασης είναι γνωστή ως κρυσταλλική φάση (ή κατάσταση SET). Kατά τη διάρκεια της μετάβασης σε κατάσταση RESET εφαρμόζεται ένας ισχυρός παλμός με αποτέλεσμα να παράγεται σημαντική ποσότητα θερμότητας. Διάφορες μελέτες εντόπισαν πως η διάχυση αυτής της θερμότητας είναι ικανή να προκαλέσει αλλοίωση στα αποθηκευμένα δεδομένα των γειτονικών κελιών μέσο του φαινομένου της θερμικής αλληλεπίδρασης (thermal crosstalk). Σε αυτήν την εργασία παρουσιάζουμε αλγορίθμους βασισμένους στο μοντέλο σφαλμάτων ευαισθησίας στο μοτίβο γειτονιάς (Neighborhood Pattern Sensitive Fault – NPSF), με σκοπό τη δοκιμή (testing) για την ανίχνευση των κελιών του επηρεάζονται απόviii το φαινόμενο της θερμικής αλληλεπίδρασης και την παροχή υψηλής αξιοπιστίας μνημών βασισμένες στις μνήμες αλλαγής φάσης. | el |
| heal.abstract | Phase Change Memory is a type of non-volatile memory that is very likely to replace the widely used flash memory. Current research on phase shift memory targets its integration into the manufacturing process of the CMOS technology that is currently in use as well as its reliability. The chalcogenide material that is used in a PCM cell can exist in two steady states with either a high or a low resistance value respectively. The high resistance state is known as the amorphous phase (or RESET state) while the low resistance state is known as the crystalline phase (or SET state). During the transition to the RESET phase, a strong pulse is applied resulting in the generation a significant amount of heat. Various studies have found that the diffusion of this heat is capable of causing damage to the stored data of neighboring cells through the phenomenon of thermal interaction (thermal crosstalk). In this work we present new test algorithms that are based on the Neighborhood Pattern Sensitive Fault (NPSF) model, for the detection of cells affected by the phenomenon of thermal interaction and consequently to provide phase change memories of high reliability. | en |
| heal.advisorName | Τσιατούχας, Γεώργιος | el |
| heal.committeeMemberName | Τσιατούχας, Γεώργιος | el |
| heal.committeeMemberName | Ευθυμίου, Αριστείδης | el |
| heal.committeeMemberName | Τενέντες, Βασίλειος | el |
| heal.academicPublisher | Πανεπιστήμιο Ιωαννίνων. Πολυτεχνική Σχολή. Τμήμα Μηχανικών Η/Υ & Πληροφορικής | el |
| heal.academicPublisherID | uoi | - |
| heal.numberOfPages | 71 σ. | - |
| heal.fullTextAvailability | true | - |
| Appears in Collections: | Διατριβές Μεταπτυχιακής Έρευνας (Masters) - ΜΗΥΠ | |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Μ.Ε. ΣΠΥΡΙΔΩΝΟΣ ΣΠΥΡΙΔΩΝ 2022.pdf | 1.93 MB | Adobe PDF | View/Open |
This item is licensed under a Creative Commons License
