Please use this identifier to cite or link to this item:
Institution and School/Department of submitter: Πανεπιστήμιο Ιωαννίνων. Σχολή Επιστημών και Τεχνολογιών. Τμήμα Βιολογικών Εφαρμογών και Τεχνολογιών
Keywords: germanium,rare earth oxides,nibe,electrical properties,interface states,bulk states,atomic-layer deposition,gate dielectrics,beam deposition,ge(100),si,si(100)
ISSN: 0038-1101
Link: <Go to ISI>://000247900700023
Appears in Collections:Άρθρα σε επιστημονικά περιοδικά ( Ανοικτά)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Evangelou-2007-Rare earth oxides as.pdf228.42 kBAdobe PDFView/Open    Request a copy

This item is licensed under a Creative Commons License Creative Commons