Please use this identifier to cite or link to this item: https://olympias.lib.uoi.gr/jspui/handle/123456789/10936
Title: Optimal selective Huffman coding for test-data compression
Institution and School/Department of submitter: Πανεπιστήμιο Ιωαννίνων. Σχολή Θετικών Επιστημών. Τμήμα Μηχανικών Ηλεκτρονικών Υπολογιστών και Πληροφορικής
Keywords: embedded testing techniques,ip cores,selective huffman coding,test-data compression,a-chip test,circuits,codes,power
URI: https://olympias.lib.uoi.gr/jspui/handle/123456789/10936
ISSN: 0018-9340
Appears in Collections:Άρθρα σε επιστημονικά περιοδικά ( Ανοικτά)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Kavousianos-2007-Optimal selective Hu.pdf1.69 MBAdobe PDFView/Open    Request a copy


This item is licensed under a Creative Commons License Creative Commons