Please use this identifier to cite or link to this item: https://olympias.lib.uoi.gr/jspui/handle/123456789/10733
Title: On-the-fly reseeding: A new reseeding technique for test-per-clock BIST
Institution and School/Department of submitter: Πανεπιστήμιο Ιωαννίνων. Σχολή Θετικών Επιστημών. Τμήμα Μηχανικών Ηλεκτρονικών Υπολογιστών και Πληροφορικής
Keywords: built-in self-test,test-per-clock schemes,linear feedback shift registers,accumulator-based test pattern generators,reseeding,built-in-test,pattern generation,test responses,self-test,compaction,circuits
URI: https://olympias.lib.uoi.gr/jspui/handle/123456789/10733
ISSN: 0923-8174
Appears in Collections:Άρθρα σε επιστημονικά περιοδικά ( Ανοικτά)



This item is licensed under a Creative Commons License Creative Commons