Please use this identifier to cite or link to this item: https://olympias.lib.uoi.gr/jspui/handle/123456789/31678
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorΣφακιανάκη, Βαλεντίναel
dc.date.accessioned2022-03-28T11:27:39Z-
dc.date.available2022-03-28T11:27:39Z-
dc.identifier.urihttps://olympias.lib.uoi.gr/jspui/handle/123456789/31678-
dc.identifier.urihttp://dx.doi.org/10.26268/heal.uoi.11494-
dc.rightsAttribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 United States*
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/us/*
dc.subjectΦθορισμόςel
dc.subjectΦαινόμενα μήτραςel
dc.subjectΦάσμαel
dc.subjectΑκτίνες-Χel
dc.subjectFluorecenceen
dc.subjectMatrix effectsen
dc.subjectSpectroscopyen
dc.subjectX rayen
dc.titleΦαινόμενα μήτρας στη φασματοσκοπία φθορισμού Ακτίνων - Χel
dc.titleMatrix effects in X-Ray fluorecence (XRF)en
heal.typemasterThesis-
heal.type.enMaster thesisen
heal.type.elΜεταπτυχιακή εργασίαel
heal.classificationΑκτίνες-Χ-
heal.dateAvailable2022-03-28T11:28:39Z-
heal.languageel-
heal.accessfree-
heal.recordProviderΠανεπιστήμιο Ιωαννίνων. Πολυτεχνική Σχολή. Τμήμα Μηχανικών Επιστήμης Υλικώνel
heal.publicationDate2020-
heal.bibliographicCitationΒιβλιογραφία: σ. 84-85el
heal.abstractΑντικείμενο της παρούσας διπλωματικής εργασίας είναι η θεωρητική και πειραματική μελέτη των φαινομένων μήτρας στη φασματοσκοπία φθορισμού ακτίνων-Χ (XRF). Η θεωρητική μελέτη πραγματοποιείται με τη μέθοδο των θεμελιωδών παραμέτρων και ειδικότερα με τη μέθοδο προσομοιώσεων Monte Carlo, με τη χρήση του λογισμικού ελεύθερης πρόσβασης ΧΜΙ-MSIM. Μελετάται η συσχέτιση της έντασης της φθορίζουσας ακτινοβολίας και της κατά βάρος συγκέντρωσης του στοιχείου, σαν συνάρτηση τόσο της σύστασης και του πάχους του στόχου, όσο και της ενέργειας της ιονίζουσας και της ανιχνευόμενης χαρακτηριστικής ακτινοβολίας. Η πειραματική μελέτη πραγματοποιείται με την καταγραφή φασμάτων φθορισμού ακτίνων-Χ υλικών, είτε γνωστής είτε άγνωστης μήτρας. Ο όρος άγνωστη μήτρα αναφέρετε στην αδυναμία γνώσης παραμέτρων του στόχου, όπως α) η ύπαρξη στοιχείων σε σημαντικές συγκεντρώσεις τα οποία είναι αδύνατο να εντοπισθούν μέσω της φασματοσκοπίας φθορισμού ακτίνων-Χ, β) η πυκνότητά του, γ) το πάχος του στόχου. Οι μετρήσεις πραγματοποιήθηκαν με τη χρήση δύο φασματοσκοπικών διατάξεων φθορισμού ακτίνων-Χ, ενεργειακού διαχωρισμού. Ειδικότερα, χρησιμο-ποιήθηκε μία διάταξη μικροφθορισμού ακτίνων-Χ (μ-XRF) και μία διάταξη φθορισμού ακτίνων-Χ ολικής ανάκλασης (TXRF). Από τις μετρούμενες εντάσεις των χαρακτηριστικών μεταβάσεων επιχειρείται η ποσοτική στοιχειακή ανάλυση. Η ποσοτική ανάλυση απαιτεί την γνώση της καμπύλης βαθμονόμησης, η οποία συσχετίζει μετρούμενη ένταση και κατά βάρος συγκέντρωση. Εξετάζονται προσεγγίσεις για τον καθορισμό της καμπύλης βαθμονόμησης, είτε με τη μέθοδο των θεμελιωδών παραμέτρων, είτε με τη μέθοδο των προτύπων, για διαφορετικές μήτρες υλικών. Απαραίτητη προϋπόθεση για τον προσδιορισμό της καμπύλης βαθμονόμησης είναι είτε η γνώση είτε η απαλοιφή των φαινομένων μήτρας. Για το σκοπό αυτό εφαρμόζονται διάφορες τεχνικές διαχείρισης της επίδρασης της μήτρας.el
heal.abstractThis diploma thesis focuses in the experimental and theoretical study of matrix effects in X-Ray Fluorecence (XRF). The theoretical study is carried out exploiting the method of fundamental parameters and specifically the method of Monte Carlo simulations, using the free access software XMI-MSIM. The correlation between the intensity of fluorescent radiation and the weight concentration of the element is studied, as a function of both the composition and thickness of the target, as well as the energy of the ionizing and the detected characteristic radiation. The experimental study is performed by recording X-ray fluorescence spectra of materials, of either known or unknown matrix. The term unknown matrix refers to the inability to know parameters of the target such as (a) the presence at significant concentrations of elements, impossible to detect by X-ray fluorescence spectroscopy; (b) its density; (c) the thickness of the target. The measurements were performed using two Energy Dispersive X-ray Fluorescence spectroscopic devices. Particularly, an X-ray microfluorescence device (μ-XRF) and a Total Reflection X-ray Fluorescence Device (TXRF) were used. Quantitative elemental analysis is performed from the measured intensities of the characteristic transitions. Quantitative analysis requires knowledge of the calibration curve, which correlates measured intensity and weight concentration. Approaches for determining the calibration curve, either by the fundamental parameter method or by using standards are considered for different material matrices. A necessary condition for determining the calibration curve is either the knowledge or the elimination of matrix phenomena. For this purpose, various techniques of coping with the matrix effect are applied.en
heal.advisorNameΑναγνωστόπουλος, Δημήτριοςel
heal.committeeMemberNameΑναγνωστόπουλος, Δημήτριοςel
heal.committeeMemberNameΚαρακασίδης, Μιχαήλel
heal.committeeMemberNameΓουρνής, Δημήτριοςel
heal.academicPublisherΠανεπιστήμιο Ιωαννίνων. Πολυτεχνική Σχολή. Τμήμα Μηχανικών Επιστήμης Υλικώνel
heal.academicPublisherIDuoi-
heal.numberOfPages92 σ.-
heal.fullTextAvailabilitytrue-
Appears in Collections:Διατριβές Μεταπτυχιακής Έρευνας (Masters) - ΜΕΥ

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Μ.Ε. ΣΦΑΚΙΑΝΑΚΗ ΒΑΛΕΝΤΙΝΑ 2020.pdf4.02 MBAdobe PDFView/Open


This item is licensed under a Creative Commons License Creative Commons