Please use this identifier to cite or link to this item:
https://olympias.lib.uoi.gr/jspui/handle/123456789/38426Full metadata record
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Σκαλτσώνης, Λεωνίδας | el |
| dc.contributor.author | Skaltsonis, Leonidas | en |
| dc.date.accessioned | 2024-10-07T05:33:33Z | - |
| dc.date.available | 2024-10-07T05:33:33Z | - |
| dc.identifier.uri | https://olympias.lib.uoi.gr/jspui/handle/123456789/38426 | - |
| dc.rights | Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 United States | * |
| dc.rights.uri | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/us/ | * |
| dc.subject | Vlsi | en |
| dc.subject | Scan chains | en |
| dc.subject | Αλυσίδες ελέγχου | el |
| dc.title | Design and implementation of scan chains in an integrated circuit | en |
| dc.title | Σχεδίαση και υλοποίηση αλυσίδων ελέγχου σε ολοκληρωμένο κύκλωμα | el |
| dc.type | masterThesis | en |
| heal.type | masterThesis | el |
| heal.type.en | Master thesis | en |
| heal.type.el | Μεταπτυχιακή εργασία | el |
| heal.classification | Vlsi | |
| heal.dateAvailable | 2024-10-07T05:34:33Z | - |
| heal.language | en | el |
| heal.access | free | el |
| heal.recordProvider | Πανεπιστήμιο Ιωαννίνων. Σχολή Πληροφορικής και Τηλεπικοινωνιών | el |
| heal.publicationDate | 2024-09 | - |
| heal.abstract | Η παρούσα διπλωματική εργασία επικεντρώνεται στη μελέτη μεθοδολογιών και τεχνικών ελέγχου στον τομέα των αλυσίδων ελέγχου oρθής λειτουργίας σε ολοκληρωμένα κυκλώματα. Ο κεντρικός στόχος είναι η προοπτική βελτίωσης στην υλοποίηση και στην απόδοση των αλυσίδων ελέγχου στις δοκιμές και την ανίχνευση σφαλμάτων. Στα πλαίσια της έρευνας, θα διερευνηθεί η ενσωμάτωση προηγμένων αλγορίθμων με σκοπό τη βελτίωση της αποτελεσματικότητας και της αξιοπιστίας των αλυσίδων ελέγχου στο πεδίο των ολοκληρωμένων κυκλωμάτων. | el |
| heal.abstract | This thesis focuses on the study of methodologies and techniques for testing scan chains to ensure proper functionality in integrated circuits. The main objective is to explore improvements in the implementation and performance of scan chains for testing and fault detection. As part of this research, the integration of advanced algorithms will be examined to enhance the efficiency and reliability of scan chains in integrated circuits. | en |
| heal.advisorName | Βαρτζιώτης, Φώτιος | el |
| heal.committeeMemberName | Δουμένης, Γρηγόριος | el |
| heal.committeeMemberName | Αγγέλης, Κωνσταντίνος | el |
| heal.academicPublisher | Πανεπιστήμιο Ιωαννίνων. Σχολή Πληροφορικής και Τηλεπικοινωνιών. Τμήμα Πληροφορικής και Τηλεπικοινωνιών | el |
| heal.academicPublisherID | uoi | el |
| heal.fullTextAvailability | true | - |
| Appears in Collections: | Διατριβές Μεταπτυχιακής Έρευνας (Masters) - ΠΤΠ | |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Μ.Ε. Σκαλτσώνης Λεωνίδας (2024).pdf | 14.77 MB | Adobe PDF | View/Open |
This item is licensed under a Creative Commons License
